精密計測学 : Bilingual edition Precision Metrology

著者

• 高, 偉 コウ, イ gao, wei
• 清水, 裕樹 シミズ, ユウキ
• 水谷, 康弘 ミズタニ, ヤスヒロ
• 道畑, 正岐 ミチハタ, マサキ
• 河野, 大輔 コウノ, ダイスケ
• 吉田, 一朗 ヨシダ, イチロウ
• 伊東, 聡 イトウ, ソウ
• 清水, 浩貴 シミズ, ヒロキ

書誌事項

精密計測学 : Bilingual edition

高偉著 ; 清水裕樹著 ; 水谷康弘著 ; 道畑正岐著 ; 河野大輔著 ; 吉田一朗著 ; 伊東聡著 ; 清水浩貴著 = Precision Metrology

朝倉書店, 2024.4

Bilingual edition

タイトル読み

セイミツ ケイソクガク : Bilingual edition

注記

英文併記

参考文献:p162〜166

内容説明・目次

目次

• １　精密計測の基準
• ２　長さスケール
• ３　角度スケール
• ４　時間スケール
• ５　幾何形状と表面性状の計測
• ６　光干渉計
• ７　マシンビジョン
• ８　空間位置計測
• ９　光学顕微鏡
• １０　走査プローブ顕微鏡
• １１　誤差要因と不確かさ
• １２　自律校正法
• １３　機械学習と精密計測
• １４　超短パルスレーザと光周波数コム

「BOOKデータベース」 より

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BD09853507
• ISBN:
  • 9784254201789
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: eng
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: v, 182p
• 大きさ: 21cm
• 分類:
  • NDC9 : 501.22
  • NDC10 : 501.22
  • NDLC : M191
• 件名:
  • BSH : 精密測定
  • NDLSH : 精密測定・測定器