精密計測学 : Bilingual edition Precision Metrology

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精密計測学 : Bilingual edition

高偉著 ; 清水裕樹著 ; 水谷康弘著 ; 道畑正岐著 ; 河野大輔著 ; 吉田一朗著 ; 伊東聡著 ; 清水浩貴著 = Precision Metrology

朝倉書店, 2024.4

Bilingual edition

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セイミツ ケイソクガク : Bilingual edition

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Note

英文併記

参考文献:p162〜166

Description and Table of Contents

Table of Contents

  • １　精密計測の基準
  • ２　長さスケール
  • ３　角度スケール
  • ４　時間スケール
  • ５　幾何形状と表面性状の計測
  • ６　光干渉計
  • ７　マシンビジョン
  • ８　空間位置計測
  • ９　光学顕微鏡
  • １０　走査プローブ顕微鏡
  • １１　誤差要因と不確かさ
  • １２　自律校正法
  • １３　機械学習と精密計測
  • １４　超短パルスレーザと光周波数コム

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Details

  • NCID
    BD09853507
  • ISBN
    • 9784254201789
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    eng
  • Place of Publication
    東京
  • Pages/Volumes
    v, 182p
  • Size
    21cm
  • Classification
  • Subject Headings
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