MOS集積回路の設計・製造と信頼性技術

著者

• 大山, 英典 オオヤマ, ヒデノリ
• 中林, 正和 ナカバヤシ, マサカズ
• 葉山, 清輝 ハヤマ, キヨテル
• 江口, 啓 エグチ, ケイ

書誌事項

MOS集積回路の設計・製造と信頼性技術

大山英典 [ほか] 共著

森北出版, 2025.1

POD版

タイトル別名

Technology on MOS circuit design, manufacturing and reliability

MOS集積回路の設計製造と信頼性技術

タイトル読み

MOS シュウセキ カイロ ノ セッケイ セイゾウ ト シンライセイ ギジュツ

注記

表現種別: テキスト (ncrcontent), 機器種別: 機器不用 (ncrmedia), キャリア種別: 冊子 (ncrcarrier)

その他の共著者: 中林正和, 葉山清輝, 江口啓

2008年4月刊のPOD版

参考文献: p183-184

内容説明・目次

目次

• 第１章　集積回路の現状と課題（半導体市場と技術動向；設計と信頼性技術の現状　ほか）
• 第２章　集積回路の基礎（半導体の種類；Ｓｉ半導体　ほか）
• 第３章　ＭＯＳ集積回路の構成と設計技術（ディジタル回路；アナログ回路　ほか）
• 第４章　ＭＯＳ集積回路の製造技術（製造環境；洗浄技術　ほか）
• 第５章　ＭＯＳ集積回路の信頼性技術（半導体デバイスの信頼性；半導体デバイスの信頼性評価　ほか）

「BOOKデータベース」 より

• NII書誌ID(NCID): BD12509601
• ISBN:
  • 9784627773899
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: viii, 189p
• 大きさ: 22cm
• 分類:
  • NDC8 : 549.7
  • NDC9 : 549.7
• 件名:
  • BSH : 集積回路