Technology rivalry between the USA and China

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Technology rivalry between the USA and China

Peter C.Y. Chow, editor

(Palgrave studies in global security / series editor Aiden Warren)

Palgrave Macmillan, [2024] , , c2024

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注記

Content Type: text (ncrcontent), Media Type: unmediated (ncrmedia), Carrier Type: volume (ncrcarrier)

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詳細情報
  • NII書誌ID(NCID)
    BD14014519
  • ISBN
    • 9783031761683
  • 出版国コード
    sz
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Cham
  • ページ数/冊数
    xxii, 433 pages
  • 大きさ
    22 cm
  • 親書誌ID
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