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電子部品の信頼性試験

越川清重著

日科技連出版社, 1985.10

Title Transcription

デンシ ブヒン ノ シンライセイ シケン

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Note

監修:三根久

参考文献:p247〜253

Details

  • NCID
    BN01152837
  • ISBN
    • 4817130164
  • Country Code
    ja
  • Title Language Code
    jpn
  • Text Language Code
    jpn
  • Place of Publication
    東京
  • Pages/Volumes
    259p
  • Size
    22cm
  • Classification
  • Subject Headings
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