電子部品の信頼性試験

Author(s)

• 越川, 清重 エチカワ, キヨシゲ
• 三根, 久 ミネ, ヒサシ

Bibliographic Information

電子部品の信頼性試験

越川清重著

日科技連出版社, 1985.10

Title Transcription

デンシ ブヒン ノ シンライセイ シケン

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• 電子部品の信頼性試験

  1985

  NDL Digital Collections

  Limited

Note

監修:三根久

参考文献:p247〜253

Details

• NCID: BN01152837
• ISBN:
  • 4817130164
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: jpn
• Place of Publication: 東京
• Pages/Volumes: 259p
• Size: 22cm
• Classification:
  • NDC8 : 549
  • NDLC : ND354
• Subject Headings:
  • NDLSH : 電子部品
  • NDLSH : 信頼性(工学)