二重励起分光法を用いた化合物半導体ディープレベルにおける再結合誘起欠陥過程の研究
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二重励起分光法を用いた化合物半導体ディープレベルにおける再結合誘起欠陥過程の研究
[ ], 1987
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ニジュウ レイキ ブンコウホウ オ モチイタ カゴウブツ ハンドウタイ ディープ レベル ニオケル サイケツゴウ ユウキ ケッカン カテイ ノ ケンキュウ
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注記
昭和61年度科学研究費補助金(一般研究C)研究成果報告書(課題番号60540202) 研究代表者:谷村克己(名古屋大学理学部)
