半導体デバイスの信頼性技術

著者

• 松下電子工業株式会社 マツシタ デンシ コウギョウ カブシキ ガイシャ

書誌事項

半導体デバイスの信頼性技術

松下電子工業株式会社編

日科技連出版社, 1988.7

タイトル読み

ハンドウタイ デバイス ノ シンライセイ ギジュツ

注記

監修:安食恒雄

執筆者:安食恒雄ほか

参考文献:p.317-327

内容説明・目次

目次

• 第１章　半導体デバイスの特質
• 第２章　品質保証の実際
• 第３章　信頼性評価の基本
• 第４章　信頼性要因と故障解析
• 第５章　個別デバイスの信頼性の課題
• 第６章　集積回路デバイスの信頼性の課題
• 第７章　品質保証に関する規格および認証制度

「BOOKデータベース」 より

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BN02644542
• ISBN:
  • 4817130210
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: xiv,333p
• 大きさ: 22cm
• 分類:
  • NDC8 : 549.8
  • NDLC : ND371
• 件名:
  • NDLSH : 半導体