ディジタル・テスターとその応用 : LSI時代のマルチパーパス測定器

書誌事項

ディジタル・テスターとその応用 : LSI時代のマルチパーパス測定器

西村昭義著

CQ出版社, 1989.11

タイトル読み

ディジタル テスター ト ソノ オウヨウ : LSI ジダイ ノ マルチ パーパス ソクテイキ

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注記

文献紹介:p147

内容説明・目次

内容説明

この本は、もっとも身近な汎用計測器であるディジタル・テスターについて、その使い方を中心に,どうすれば正しい計測ができるかを、応用計測例とともにまとめたものです。

目次

  • 第1章 計測のための基礎知識
  • 第2章 ディジタル・テスターのしくみと機能
  • 第3章 ディジタル・テスターの使い方
  • 第4章 応用計測
  • 第5章 ディジタル・テスター・セレクションガイド

「BOOKデータベース」 より

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BN04197241
  • ISBN
    • 4789811646
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    jpn
  • 出版地
    東京
  • ページ数/冊数
    147p
  • 大きさ
    21cm
  • 分類
  • 件名
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