書誌事項

米国特許審査便覧

米国特許制度研究会解説

AIPPI・JAPAN, 1982-

  • 1982年版
  • 1989年版

タイトル別名

Manual of patent examining procedure

タイトル読み

ベイコク トッキョ シンサ ベンラン

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注記

1989年版: 米国特許商標庁発行(1988)の抄訳、原文つき

解説: 米国特許制度研究会

詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    BN04610290
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    jpn
  • 本文言語コード
    jpneng
  • 出版地
    東京
  • ページ数/冊数
  • 大きさ
    30cm
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