MIL-STD-883Cマイクロエレクトロニクスの試験方法及び手順

著者

書誌事項

MIL-STD-883Cマイクロエレクトロニクスの試験方法及び手順

日本規格協会編集

日本規格協会, 1987.3

タイトル読み

MIL STD 883C マイクロエレクトロニクス ノ シケン ホウホウ オヨビ テジュン

電子リソースにアクセスする 全1件

大学図書館所蔵 件 / 全8件

この図書・雑誌をさがす

注記

Test methods and procedures for microelectronics.の翻訳

内容説明・目次

内容説明

ＭＩＬ‐ＳＴＤ‐８８３は、自然現象の有害な作用、軍用などの環境条件に対するマイクロエレクトロニクスデバイスの耐性を決める基本的な試験方法と手順について規定したもので、１９６８年に制定されて以来、たびたび改正が行われているが、最新の規格は１９８３年８月に８８３Ｃとして改正されたものである。今回、８８３Ｃの邦訳に当たっては、原規格の新制定及び改正された内容を中心に当会が独自に見直しを行い邦訳したものである。

目次

  • 概要
  • 適要文書
  • 略語、記号、定義
  • 一般的要求事項
  • 詳細要求事項
  • 環境試験（１０００クラス）
  • 機械的試験（２０００クラス）
  • 電気的試験（ディジタル）（３０００クラス）
  • 電気的試験（リニア）（４０００クラス）
  • 試験手順（５０００クラス）

「BOOKデータベース」 より

詳細情報

ページトップへ