デバイス・部品の故障解析

Author(s)

• 二川, 清 ニカワ, キヨシ

Bibliographic Information

デバイス・部品の故障解析

二川清[ほか]著

（信頼性110番シリーズ, 1）

日科技連出版社, 1992.9

Title Transcription

デバイス ブヒン ノ コショウ カイセキ

Access to Electronic Resource 1 items

• デバイス・部品の故障解析

  1992

  NDL Digital Collections

  Limited

Description and Table of Contents

Table of Contents

• 第１章　故障解析を始めるにあたって
• 第２章　故障解析の手順
• 第３章　故障解析技術（手法・装置）
• 第４章　故障メカニズム
• 第５章　その他のノウハウ

by "BOOK database"

Details

• NCID: BN08119512
• ISBN:
  • 481713027X
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: jpn
• Place of Publication: 東京
• Pages/Volumes: x, 127p
• Size: 21cm
• Classification:
  • NDC8 : 549.8
• Subject Headings:
  • BSH : 半導体
  • BSH : 集積回路
  • BSH : 信頼性(工学)
• Parent Bibliography ID:
  • BN08119658