デバイス・部品の信頼性試験

Author(s)

• 高久, 清 タカヒサ, キヨシ

Bibliographic Information

デバイス・部品の信頼性試験

高久清〔ほか〕著

（信頼性110番シリーズ, 2）

日科技連出版社, 1992.9

Title Transcription

デバイス・ブヒン ノ シンライセイ シケン

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• デバイス・部品の信頼性試験

  1992

  NDL Digital Collections

  Limited

Description and Table of Contents

Table of Contents

• 第１章　信頼性試験を始めるにあたって
• 第２章　信頼性試験の計画
• 第３章　試験条件と実施上の注意
• 第４章　加速試験とスクリーニング試験
• 第５章　信頼性試験結果の解析

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Details

• NCID: BN08248468
• ISBN:
  • 4817130288
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: jpn
• Place of Publication: 東京
• Pages/Volumes: x, 164p
• Size: 21cm
• Classification:
  • NDC8 : 549.8
• Subject Headings:
  • BSH : 半導体
  • BSH : 集積回路
  • BSH : 信頼性(工学)
• Parent Bibliography ID:
  • BN08119658