デバイス・部品の信頼性試験

著者

• 高久, 清 タカヒサ, キヨシ

書誌事項

デバイス・部品の信頼性試験

高久清〔ほか〕著

（信頼性110番シリーズ, 2）

日科技連出版社, 1992.9

タイトル読み

デバイス・ブヒン ノ シンライセイ シケン

電子リソースにアクセスする 全1件

• デバイス・部品の信頼性試験

  1992

  NDLデジタルコレクション

  限定公開

内容説明・目次

目次

• 第１章　信頼性試験を始めるにあたって
• 第２章　信頼性試験の計画
• 第３章　試験条件と実施上の注意
• 第４章　加速試験とスクリーニング試験
• 第５章　信頼性試験結果の解析

「BOOKデータベース」 より

• NII書誌ID(NCID): BN08248468
• ISBN:
  • 4817130288
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: x, 164p
• 大きさ: 21cm
• 分類:
  • NDC8 : 549.8
• 件名:
  • BSH : 半導体
  • BSH : 集積回路
  • BSH : 信頼性(工学)
• 親書誌ID:
  • BN08119658