新・テスト理論 : 教育情報の構造分析法

Author(s)

• 竹谷, 誠 タケヤ, マコト

Bibliographic Information

新・テスト理論 : 教育情報の構造分析法

竹谷誠著

（拓殖大学研究叢書, 自然科学 1）

拓殖大学研究所, 1991.4

Title Transcription

シン テスト リロン : キョウイク ジョウホウ ノ コウゾウ ブンセキホウ

Note

文献:p301〜309

Details

• NCID: BN1396610X
• Country Code: ja
• Title Language Code: jpn
• Text Language Code: jpn
• Place of Publication: 東京
• Pages/Volumes: 313p
• Size: 22cm
• Classification:
  • NDC8 : 371.7
  • NDC7 : 371.8
  • NDLC : FC63
• Subject Headings:
  • BSH : 教育評価
• Parent Bibliography ID:
  • BN0055739X