新・テスト理論 : 教育情報の構造分析法

著者

• 竹谷, 誠 タケヤ, マコト

書誌事項

新・テスト理論 : 教育情報の構造分析法

竹谷誠著

（拓殖大学研究叢書, 自然科学 1）

拓殖大学研究所, 1991.4

タイトル読み

シン テスト リロン : キョウイク ジョウホウ ノ コウゾウ ブンセキホウ

注記

文献:p301〜309

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BN1396610X
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpn
• 出版地: 東京
• ページ数/冊数: 313p
• 大きさ: 22cm
• 分類:
  • NDC8 : 371.7
  • NDC7 : 371.8
  • NDLC : FC63
• 件名:
  • BSH : 教育評価
• 親書誌ID:
  • BN0055739X