新開発半導体検出器を用いたプラズマ閉じ込め電位のX線測定に基づく新計測法の開発

著者

• 長, 照二 チョウ, テルジ

書誌事項

新開発半導体検出器を用いたプラズマ閉じ込め電位のX線測定に基づく新計測法の開発

長照二研究代表者

[長照二], 1996.3

タイトル読み

シンカイハツ ハンドウタイ ケンシュツキ オ モチイタ プラズマ トジコメ デンイ ノ Xセン ソクテイ ニ モトズク シン ケイソクホウ ノ カイハツ

注記

平成6-7年度科学研究費補助金(一般研究(B))研究成果報告書

研究課題番号: 06452418

英文併載

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BN15244252
• 出版国コード: ja
• タイトル言語コード: jpn
• 本文言語コード: jpneng
• 出版地: [つくば]
• ページ数/冊数: 1冊
• 大きさ: 30cm