野島 雅 NOJIMA Masashi

ID:1000050366449

東京理科大学総合研究機構 Research Institute for Science and Technology, Tokyo University of Science (2008年 CiNii収録論文より)

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Articles:  1-7 of 7

  • Development of the High-intensity Dual X-ray Source  [in Japanese]

    SUZUKI Atsushi , HASHIMOTO Akina , OWARI Masanori , NOJIMA Masashi , NIHEI Yoshimasa

    表面科学 = Journal of The Surface Science Society of Japan 29(3), 193-194, 2008-03-10

    References (3)

  • Reduction of Memory Effect in Shave-off Depth Profiling  [in Japanese]

    NOJIMA Masashi , FUJII Makiko , ISHIZAKI Yasuhiro , OWARI Masanori , NIHEI Yoshimasa

    Memory effect was observed in shave-off depth profiling as same as in conventional SIMS analysis. To avoid the influence of memory effect, deposit elements were displaced by other sputtered element …

    BUNSEKI KAGAKU 57(1), 67-69, 2008-01-05

    J-STAGE  NDL Digital Collections  References (5)

  • Individual Ultrafine Particle Analysis in Urban Atmospheric Environment by Electron Probe Microanalysis  [in Japanese]

    SAKAI Toshifumi , NOJIMA Masashi , NIHEI Yoshimasa

    本研究では,近年実環境中に存在する浮遊粒子状物質の中でも,深刻な健康影響が危惧されている粒径100 nm程度以下の超微小粒子に注目した.この超微小粒子については,マウス暴露実験等の健康影響報告や一括分析での質量濃度評価は成されているが,超微小粒子自身の個々の詳細な知見は不十分であるのが現状である.そこで,電子線プローブマイクロアナリシス法を用いての粒別分析を行うにあたり,超微小粒子を捕集して分析す …

    BUNSEKI KAGAKU 56(8), 631-637, 2007-08-05

    J-STAGE  NDL Digital Collections  References (18)

  • Present and future of X-ray photoelectron diffraction  [in Japanese]

    NIHEI Yoshimasa , NOJIMA Masashi

    <p>X線光電子回折の発展の経過を主な論文をあげつつ概観した.また,原理,装置などについても略述し,現象と方法の主な特徴と得られる情報についてもまとめた.本方法の現状について述べるとともに,最近の研究動向と主な応用例をあげ,さらには,近い将来の発展の方向について述べた.</p>

    Oyo Buturi 74(10), 1341-1344, 2005-10-10

    J-STAGE  References (36)

  • Evaluation of diesel exhaust particle pollution using the source apportionment of PM_<2.5> in an urban atmospheric environment  [in Japanese]

    TAKII Takanori , SUZUKI Kenichirou , NAKANO Satoshi , YOSHIZAWA Miyuki , NOJIMA Masashi , TOMIYASU Bunbunoshin , NIHEI Yoshimasa

    We performed a source apportionment for particulate matter under 2.5 μm with the diameter (PM<sub>2.5</sub>) based on individual particle analyses using an electron probe microanalyzer …

    BUNSEKI KAGAKU 53(11), 1233-1237, 2004-11-05

    J-STAGE  NDL Digital Collections  References (9)

  • Development and estimation of a nano-beam secondary ion mass spectrometry apparatus  [in Japanese]

    NOJIMA Masashi , KANDA Yusuke , TOI Masayuki , TOMIYASU Bunbunoshin , SAKAMOTO Tetsuo , OWARI Masanori , NIHEI Yoshimasa

    近年の電子デバイスの微小化に伴い,ナノレベルでの分析・評価技術の確立が急務となっている.そこで,ナノ局所領域の元素分布分析の実現を目的とし,高空間分解能かつ高効率な二次イオン検出を実現するナノビームSIMS装置の試作を行った.本装置の一次イオンビームの評価を行った結果,面方向分解能の一つの指標となるエッジ分解能は標準偏差1σで22 nm程度と見積もられた.更に二次イオンマッピングにおけ …

    BUNSEKI KAGAKU 52(3), 179-185, 2003-03-05

    J-STAGE  NDL Digital Collections  References (16)

  • Development of Nano-scale FIB SIMS Apparatus  [in Japanese]

    NOJIMA Masashi , TOMIYASU Bunbunoshin , SHIBATA Toshio , OWARI Masanori , NIHEI Yoshimasa

    Secondary ion mass spectrometry (SIMS) provides very sensitive chemical and elemental information. Nano dimensional SIMS analysis is, however, very difficult to carry out by conventional methods mainl …

    Hyomen Kagaku 21(8), 511-516, 2000-08-10

    J-STAGE  References (7)

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