小野寺 裕幸 ONODERA Hiroyuki

ID:9000001687510

株式会社 富士通研究所 システムLSI開発研究所 ネットワークSoC開発部 System LSI Development Laboratories, Fujitsu Laboratories LTD. (2005年 CiNii収録論文より)

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  • 40Gb/s 4:1 MUX/1:4 DEMUX in 90nm standard CMOS technology  [in Japanese]

    KANDA Kouichi , YAMAZAKI Daisuke , YAMAMOTO Takuji , HORINAKA Minoru , OGAWA Junji , TAMURA Hirotaka , ONODERA Hiroyuki

    本論文では、90nm標準CMOSプロセスを用いて試作した、1.2V単一電源動作可能な40Gb/s 4:1 MUX及び1:4 DEMUX回路について、主に以下の三つの技術的内容に焦点を置きながら説明する。一つ目は、最適なインダクタ・ピーキングを施したMUXの出力ドライバ回路についてである。二つ目は、低電圧動作に適した高速セレクタ回路、及びラッチ回路についてである。三つ目は、このような高周波回路を試作 …

    IEICE technical report 105(444), 7-14, 2005-11-30

    References (12)

  • 40Gb/s 4:1 MUX/1:4 DEMUX in 90nm standard CMOS technology  [in Japanese]

    KANDA Kouichi , YAMAZAKI Daisuke , YAMAMOTO Takuji , HORINAKA Minoru , OGAWA Junji , TAMURA Hirotaka , ONODERA Hiroyuki

    本論文では、90nm標準CMOSプロセスを用いて試作した、1.2V単一電源動作可能な40Gb/s 4:1 MUX及び1:4 DEMUX回路について、主に以下の三つの技術的内容に焦点を置きながら説明する。一つ目は、最適なインダクタ・ピーキングを施したMUXの出力ドライバ回路についてである。二つ目は、低電圧動作に適した高速セレクタ回路、及びラッチ回路についてである。三つ目は、このような高周波回路を試作 …

    IEICE technical report 105(447), 7-14, 2005-11-30

    References (12)

  • 40Gb/s 4:1 MUX/1:4 DEMUX in 90nm standard CMOS technology  [in Japanese]

    KANDA Kouichi , YAMAZAKI Daisuke , YAMAMOTO Takuji , HORINAKA Minoru , OGAWA Junji , TAMURA Hirotaka , ONODERA Hiroyuki

    本論文では、90nm標準CMOSプロセスを用いて試作した、1.2V単一電源動作可能な40Gb/s 4:1 MUX及び1:4 DEMUX回路について、主に以下の三つの技術的内容に焦点を置きながら説明する。一つ目は、最適なインダクタ・ピーキングを施したMUXの出力ドライバ回路についてである。二つ目は、低電圧動作に適した高速セレクタ回路、及びラッチ回路についてである。三つ目は、このような高周波回路を試作 …

    情報処理学会研究報告. SLDM, [システムLSI設計技術] 122, 7-14, 2005-11-30

    References (12)

  • 40Gb/s 4:1 MUX/1:4 DEMUX in 90nm standard CMOS technology  [in Japanese]

    Kanda Kouichi , Yamazaki Daisuke , Yamamoto Takuji , Horinaka Minoru , Ogawa Junji , Tamura Hirotaka , Onodera Hiroyuki

    本論文では、90nm標準CMOSプロセスを用いて試作した、1.2V単一電源動作可能な40Gb/s 4:1 MUX及び1:4 DEMUX回路について、主に以下の三つの技術的内容に焦点を置きながら説明する。一つ目は、最適なインダクタ・ピーキングを施したMUXの出力ドライバ回路についてである。二つ目は、低電圧動作に適した高速セレクタ回路、及びラッチ回路についてである。三つ目は、このような高周波回路を試作 …

    Technical report of IEICE. VLD 105(441), 7-14, 2005-11-23

    References (12)

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