重松 和男 SHIGEMATSU Kazuo

Articles:  1-3 of 3

  • Error Correction Performance of Product Code for Storage Devices  [in Japanese]

    MIYAZAKI Michio , SHIGEMATSU Kazuo , IZUMITA Morishi

    磁気/光記憶装置の記憶密度の向上に伴いより強力な誤り訂正能力が要求され,また誤り訂正符号の実使用環境に適した訂正能力評価が重要な課題になっている[4].筆者らはHDDを中心に記憶装置で最も基本的に使用されているLDC(Long Distance Code)について欠陥の分布モデルに基づいた訂正能力評価を実施,報告した[8]が,本論文では,同報告で提案した分布モデルを用いた評価法を,記憶装置において …

    The Transactions of the Institute of Electronics, Information and Communication Engineers C 86(11), 1209-1217, 2003-11-01

    References (8)

  • Error Correction Performance of Long Distance Code for Storage Devices  [in Japanese]

    MIYAZAKI Michio , SHIGEMATSU Kazuo , IZUMITA Morishi

    磁気/光記憶装置の記憶密度は驚異的な向上を続けているが,これに伴って記憶情報はますますより小さな領域により保持され,生エラー率の増大により,より強力な誤り訂正能力が要求されている[4].本論文では,エラー原因としての記憶媒体系の欠陥をその長さと発生間隔分布の形で数式モデル化して,記憶装置において最も多用されているインタリーブされたReed-Solomon符号の訂正能力が定量的に評価可能であること, …

    The Transactions of the Institute of Electronics,Information and Communication Engineers. C 85(8), 765-773, 2002-08-01

    References (4) Cited by (1)

  • Characteristics of read/Write On magneto-optical disk (Write Control Method for high density magnetoophcal disk system)  [in Japanese]

    Maeda T. , Kirino F. , Toda T. , Ide H. , Nilhara T. , Mita S. , Sigematu K.

    第2世代の光磁気デイスクの大容量化方法としてゾーンCAV記録とマーク長記録方式の組み合わせが有効である。今回、光磁気デイスクにマーク長記録を適用するのに最適な記録波形制御技術と環境温度が変化しても正確なマークを形成する試し書き記録制御技術を開発した。この技術は記録半径位置に応じて記録クロック周波数が変化するゾーンC AV方式に適合し、かつ非オーバーライト、オーバーライトいずれの媒体にも同一回路構成 …

    ITE Technical Report 16(73), 13-18, 1992

    J-STAGE  References (7)

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