星野 真一 Hoshino Shinichi

ID:9000004932657

松下電器産業株式会社 液晶事業部 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. (1998年 CiNii収録論文より)

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  • 17)TFT液晶パネル簡易画像検査(情報ディスプレイ研究会)  [in Japanese]

    星野 真一 , 堀誠 一郎 , 井村 秀之 , 村田 智浩 , 山元 英嗣

    The journal of the Institute of Image Information and Television Engineers 52(5), 684, 1998-05-20

  • Simplified Screen Inspection Method for TFT-LCD Panels  [in Japanese]

    HOSHINO Shinichi , HORI Seiichiro , IMURA Hideyuki , MURATA Tomohiro , YAMAMOTO Eiji

    TFT液晶パネル製造において、実装・モジュール工程での生産ロスを抑えるため、液晶セル状態での画像検査が必須となっている。現在の画像検査方式では、走査電極・信号電極・対向電極の各端子にプローブを接触させて検査するのが一般的である。この方式では、プローブ精度確保のためのアライメント作業による生産性低下, 液晶パネルの画面サイズ別に検査用プローブが必要, または検査用プローブの維持コストが高価といったよ …

    IEICE technical report. Electronic information displays 97(520), 91-95, 1998-01-30

  • Simplified Screen Inspection Method for TFT-LCD Panels  [in Japanese]

    Hoshino Shinichi , Hori Seiichiro , Imura Hideyuki , Murata Tomohiro , Yamamoto Eiji

    TFT液晶パネル製造において、実装・モジュール工程での生産ロスを抑えるため、液晶セル状態での画像検査が必須となっている。現在の画像検査方式では、走査電極・信号電極・対向電極の各端子にプローブを接触させて検査するのが一般的である。この方式では、プローブ精度確保のためのアライメント作業による生産性低下、液晶パネルの画面サイズ別に検査用プローブが必要, または検査用プローブの維持コストが高価といったよう …

    ITE Technical Report 22.5(0), 91-95, 1998

    J-STAGE 

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