西野 智弘 NISHINO Tomohiro

ID:9000005110834

東京大学大学院工学系研究科 Graduate School of Engineering, University of Tokyo (2005年 CiNii収録論文より)

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  • Inductance estimation based on inductance of straight line structure  [in Japanese]

    NISHINO Tomohiro , OKABE Yoichi

    インダクタンス値は単一磁束量子(SFQ)回路の設計の際に重要なパラメータとなる.しかし, インダクタンス値の正確な計算には多大な時間がかかる.私たちはその値をより簡単に求めるために, 実際の回路で使われている基本的な構造のインダクタンス値を直線のインダクタンス値で正規化した.この結果は実際の回路で使われる寸法においてほぼ一定となり, これにより, インダクタンス値の計算や推定が容易になる.本報告で …

    IEICE technical report 105(334), 7-12, 2005-10-14

    References (3)

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