秋山 浩一 AKIYAMA Kouichi

ID:9000045431215

富士ゼロックス(株) Fuji Xerox Co., Ltd. (2012年 CiNii収録論文より)

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Articles:  1-1 of 1

  • The Effective Factor Choice and Allocating Method for Orthogonal Array in Software Testing  [in Japanese]

    AKIYAMA Kouichi , TAKAGI Tomohiko , FURUKAWA Zengo

    直交表を用いたHAYST法という組合せテスト技法は,組込み系ソフトウェアに対する品質向上とテストの効率化を目的として開発された.一方で,受注ソフトウェアの開発において,納品後の不具合に対して,対症療法的な対応がされているケースがあり,HAYST法を適用すべきであると考えた.しかし,HAYST法は,因子数に対してテストケース数が一次関数的に増加する傾向にあり,そのまま適用することはできなかった.そこ …

    Journal of The Japanese Society for Quality Control 42(4), 567-576, 2012

    J-STAGE  References (16)

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