徳田 武朋 TOKUDA Taketomo

ID:9000045434950

神奈川工科大学大学院工学研究科 Dept. of Electrical and Electronic Engineering, Graduate School of Kanagawa Institute of Technology (2005年 CiNii収録論文より)

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Articles:  1-5 of 5

  • Experiment and Analysis Regarding the S/N Improvement of CCD Camera by Time Delay and Integmtion Method  [in Japanese]

    Tokuda Taketomo , Takahashi Fumiho , Nagura Riichi

    Recently, the importance of the earth observation from the space has been recognized from the standpoint of the giobai environmenial problem. As various meihods for acquiring the image has been develo …

    Research reports Kanagawa Institute of Technology. Part B Science and technology (29), 31-34, 2005-03

    IR  DOI 

  • A Study on the S/N improvement of CCD Camera by Time Delay and Integration Method  [in Japanese]

    TOKUDA Taketomo , TAKAHASHI Fumiho , NAGURA Riichi

    近年, 地球環境問題に対する意識の高まりの中で, 衛星・航空機からの地球観測は問題解決のための第一歩であるとの認識から, 様々な観測プログラムが国際機関や国際共同研究によって開始された.それにより撮像法は急速に発展し, 高分解能にて地表を観測することとなり, それに伴い信号対雑音比(S/N)の向上が課題となっている.複数のCCD出力を加算し, 信号合成する時間遅延積分(TDI)方式は光学系の口径を …

    Technical report of IEICE. PRMU 104(573), 57-61, 2005-01-14

    References (7)

  • Experiment and Analysis Regarding the S/N improvement of CCD Camera by Time Delay and Integration Method  [in Japanese]

    TOKUDA Taketomo , TAKAHASHI Fumiho , NAGURA Riichi

    近年,地球環境問題に対する意識の高まりの中で,衛星・航空機からの地球観測は問題解決のための第一歩であるとの認識から,様々な観測プログラムが国際機関や国際共同研究によって開始された.それにより撮像法は急速に発展し,高分解能にて地表を観測することとなり,それに伴い信号対雑音比(S/N)の向上が課題となっている.複数のCCD出力を加算し,信号合成する時間遅延積分(TDI)方式は光学系の口径を増加させずに …

    IEICE technical report. Electronic information displays 104(329), 37-40, 2004-10-05

    References (3)

  • Experiment and Analysis Regarding the S/N improvement of CCD Camera by Time Delay and Integration Method  [in Japanese]

    TOKUDA Taketomo , TAKAHASHI Fumiho , NAGURA Riichi

    電気学会研究会資料. OQD, 光・量子デバイス研究会 2004(21), 37-40, 2004-10-05

    References (3)

  • Experiment and Analysis Regarding the S/N improvement of CCD Camera by Time Delay and Integration Method  [in Japanese]

    TOKUDA Taketomo , TAKAHASHI Fumiho , NAGURA Riichi

    ITE technical report 28(55), 37-40, 2004-10-05

    References (3)

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