小野寺 秀俊 ONODERA Hidetoshi

ID:9000046174715

京都大学情報学研究科 Graduate School of Informatics, Kyoto University (2014年 CiNii収録論文より)

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Articles:  1-5 of 5

  • Impact of CMOS Transistor Random Telegraph Noise on Combinational Circuit Delay  [in Japanese]

    MATSUMOTO Takashi , KOBAYASHI Kazutoshi , ONODERA Hidetoshi

    ランダム・テレグラフ・ノイズ(RTN)による組合せ回路遅延ゆらぎの統計的な性質を40nm CMOSテクノロジにおいて試作した12,600個のリング発振回路(RO)を測定することによって明らかにした。わずかなROにおいて巨大な遅延ゆらぎが発生した。低電圧(0.65V)においてRTNによって最大で16.8%のゆらぎが発生することを明らかにするとともにプロセスばらつきによる遅延変動との比較を行った。動作 …

    Technical report of IEICE. VLD 113(454), 7-12, 2014-03-03

  • Characterization of Random Telegraph Noise using Inhomogeneous Ring Oscillator  [in Japanese]

    NISHIMURA Shohei , MATSUMOTO Takashi , KOBAYASHI Kazutoshi , ONODERA Hidetoshi

    近年のLSIの微細化に伴い、ランダムテレグラフノイズが組み合わせ回路の遅延に与える影響が増大している。非均質なリングオシレータを用いて、ランダムテレグラフノイズが回路に及ぼす影響を正確に見積もる手法を提案する。スイッチング動作におけるPMOSFET、NMOSFETのランダムテレグラフノイズの振幅量およびトラップ数はゲート幅に強く依存することを確認した。ゲート幅の小さいトランジスタを用いる際には、ラ …

    Technical report of IEICE. VLD 113(454), 1-6, 2014-03-03

  • C-12-44 Characteristics of An NBTI Measurement Circuit to Reduce Switching Time between Degradation Mode and Recovery Mode  [in Japanese]

    Miki Atsushi , Matsumoto Takashi , Kobayashi Kazutoshi , Onodera Hidetoshi

    Proceedings of the Society Conference of IEICE 2012年_エレクトロニクス(2), 117, 2012-08-28

  • Effect of Anomalous Skin Effect on Transmission-Line Loss  [in Japanese]

    TSUCHIYA Akira , ONODERA Hidetoshi

    電子情報通信学会技術研究報告. MW, マイクロ波 111(351), 77-81, 2011-12-08

    References (14)

  • A-3-22 Effect of On-chip Wire Inductance on Power Supply Fluctuation  [in Japanese]

    MURAMATSU Atsushi , HASHIMOTO Masanori , ONODERA Hidetoshi

    Proceedings of the IEICE General Conference 2004年_基礎・境界, 89, 2004-03-08

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