宇佐美 誠二 USAMI Seiji

ID:9000253323441

横浜国立大学工学部 Faculty of Engineering, Yokohama National University (1985年 CiNii収録論文より)

Search authors sharing the same name

Articles:  1-1 of 1

  • Recent Progress in Study on Outer-Most Layers of Solid Surfaces

    USAMI Seiji , FUJIKAWA Takashi

    最近の内外の研究から, (1) 表面最外層の状態観測が可能なぺニングイオン化電子分光法, (2) 光 (X線)を用いずに,電子線照射でEXAFSを観測する方法, (3) 表面準位をバルク準位から判別する方法とその応用, (4) 表面に形成される一次元伝導性物質など,四つの話題を紹介する.

    OYOBUTURI 54(8), 799-805, 1985

    J-STAGE 

Page Top