森山 広思 MORIYAMA HIROSHI

ID:9000283800236

東邦大理 Faculty of Science, Toho University (2005年 CiNii収録論文より)

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Articles:  1-1 of 1

  • Cross Section Analysis of Anodized Niobium Oxide Film

    OSADA RYUSUKE , TERASHIMA KEIICHI , MORIYAMA HIROSHI

    箔状の純NbおよびNb-1mass%Zr合金を液性の異なる2種類の電解液を用いて陽極酸化を行った結果、酸化皮膜の厚さは、双方ともに、電解電圧の増加とともに直線的に増加することがわかった。生成された酸化皮膜の断面に着目し、FE-SEMおよびEPMAで分析を行った結果、電解液の塩基性が強いほど膜厚が厚く、しかも純Nbは合金に比べわずかではあるが厚膜であることがわかった。

    Abstract of annual meeting of the Surface Science of Japan 25(0), 169-169, 2005

    J-STAGE 

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