Takada Masashi
,
Arai Seiji
,
Higashimata Atsushi
,
Kamada So
,
Fujii Ryo
,
Nakamura Masaru
,
Hoshi Masaharu
,
Sato Akira
,
suda mituru
,
Endo Satoru
,
Hamano Tsuyoshi
数MeV荷電粒子ビームプロファイルモニターを非破壊かつ、リアルタイムに計測可能な手法を開発した。本手法を用いることで、数10μAから1mAまでのビーム強度を、照射しながらビーム形状を実タイムで計測できる。本手法の特性評価を放医研の大強度中性子照射施設(NASBEE)で実施し、検証した。本手法は、今後の大強度ビームが必要な加速器BNCTのビームプロファイルモニターとして利用することができる。
J-STAGE