ダンジェ ジャンルック DANGER Jean-Luc

ID:9000300661851

Department Comelec, Telecom Paristech (2014年 CiNii収録論文より)

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論文一覧:  1件中 1-1 を表示

  • CMOS暗号回路におけるシリコン基板からのサイドチャネル漏洩 (環境電磁工学)

    藤本 大介 , 三浦 典之 , 永田 真 [他] , 林 優一 , 本間 尚文 , バシーン シバム , ダンジェ ジャンルック

    暗号回路において電源,グラウンドを流れる電流により内部状態が推定できてしまうサイドチャネル攻撃が問題となっている.CMOSデジタル回路において,電源電流の一部はシリコン基板内を回帰電流として流れ,その電流により電圧変動が発生し,基板ノイズとして観測される.そのため,基板ノイズからも情報が漏洩してしまう危険性が考えられる.本研究では65nm CMOSプロセスにおいて,オンチップ波形モニタ回路とAES …

    電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 114(93), 1-6, 2014-06-20

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