岡島 智史 OKAJIMA Satoshi

ID:9000392072309

東京大学 University of Tokyo (2006年 CiNii収録論文より)

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  • Applicability of Simplified Evaluation Method of Random Fatigue Damage for Thermal Striping Phenomena

    OKAJIMA Satoshi , SAKAI Shinsuke , IZUMI Satoshi , KASAHARA Naoto

    設計段階でサーマルストライピング荷重による損傷を評価する場合、レインフロー法を利用した評価は負担が大きい。本研究は、パワースペクトル密度の統計的特徴量より疲労損傷量を簡易評価する手法として、Tovoが提案した手法を取り上げ、サーマルストライピング現象への適用性を調査し、簡便な設計指針構築の可能性を検討した。

    Proceedings of Annual / Fall Meetings of Atomic Energy Society of Japan 2006s(0), 297-297, 2006

    J-STAGE 

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