本間 彰 HONMA Akira

ID:9000392097746

北海道大学 大学院工学研究院 Faculty of Engineering Hokkaido University (2010年 CiNii収録論文より)

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  • Evaluation of charge carrier trapping levels in CVD diamonds by use of an active carrier trapping and photo I-V mesurement  [in Japanese]

    Goto Takuto , HONMA Akira , SIKATA Shinichi , HURUSAKA Michihiro , FUJITA Fumiyuki , Junichi KANEKO H. , SATO Kei , KAKIMOTO Akinori , KONNO Yuta , TUBOUCHI Nobuteru , MOKUNO Yoshiaki , CHAYAHARA Akiyoshi

    ダイヤモンドは熱伝導率や電荷キャリア移動度の高さ、耐熱性、耐放射線性から過酷な環境における放射線検出器への応用が期待されている。しかしダイヤモンド結晶中の構造欠陥や不純物による電荷キャリア捕獲準位は放射線検出器としての動作を妨げる。そのため結晶中の電荷キャリア捕獲準位とその濃度を評価し、結晶合成に反映させることが必要とされている。本研究では紫外光による積極的電荷捕獲と光I-V測定を用い、CVD合成 …

    Proceedings of Annual / Fall Meetings of Atomic Energy Society of Japan 2010f(0), 107-107, 2010

    J-STAGE 

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