宗像 祥史, 島崎 聡, 苅谷 義治, 佐藤 敏行, 榎本 利章, 小林 誠
エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
26
(0),
391-392,
2012
...この検討には有限要素法解析(FEM)が有力となるが,再現するためには膨大な規模のモデリングが必要になり,またその信頼性解析は,微細複雑構造に対して,製造プロセスから完成後の挙動に至る複数物理領域の現象を解くことが求められる.この解決策として並列処理を用いた大規模FEM解析の活用が期待される.本研究では,並列処理を用いた大規模FEMによりLow-k層を再現したモデルのアンダーフィル硬化過程における熱応力解析...
DOI