検索結果を絞り込む

データ種別

本文・本体へのリンク

検索結果 15 件

  • 1 / 1

  • CPU使用率とメモリのプロセス間交換にもとづく動的なスループット向上手法

    岡本, 太一, 前田, 敦司, 山口, 喜教 第53回プログラミング・シンポジウム予稿集 2012 7-18, 2012-01-06

    計算の結果をメモリ上にキャッシュするプログラムやガベージコレクションを用いるプログラムのように、多くのメモリを使用することでスループットを向上できるプログラムは数多い。しかし、こうした時間と空間にトレードオフのあるプログラムを複数実行している状況において、それぞれのプログラムにどの程度のCPU使用率やメモリ使用量を割り振るのが最適かという問題の解は自明でない。本研究では、ある仮定のもとでプロセス…

    情報処理学会

  • CPU使用率とメモリのプロセス間交換に基づく動的なスループット向上手法

    岡本, 太一, 前田, 敦司, 山口, 喜教 情報処理学会論文誌プログラミング(PRO) 4 (3), 96-96, 2011-06-29

    計算の結果をメモリ上にキャッシュするプログラムや,ガーベッジコレクションを用いるプログラムのように多くのメモリを使用することでスループットを向上させることができるプログラムは数多い.しかし,このような時間と空間にトレードオフのあるプログラムを複数実行している状況において,それぞれのプログラムにどの程度のメモリを与えるのが最適かという問題の解は自明でない.本発表では,ある仮定のもとでプロセス間で …

    情報処理学会

  • 近赤外干渉法によるシリコンミラーの絶対形状測定

    打越 純一, 岡本 太一朗, 津田 周, 森田 瑞穂 精密工学会学術講演会講演論文集 2004S (0), 433-433, 2004

    本研究はシリコンミラーの形状を近赤外半導体レーザーを光源にした干渉計によって測定することを目的としている。近赤外光を用いることで参照面、被検面共にシリコンを使用することができる。そのため測定結果を基に形状の修正加工を行い測定系そのものの精度を向上させることができると考えている。今回の講演では三面合わせ法を使用することでシリコンの絶対形状測定を行った結果について発表を行う予定である。

    DOI

  • 3交点基準を用いた絶対平面形状測定

    打越 純一, 岡本 太一朗, 近本 元則, 森田 瑞穂 精密工学会学術講演会講演論文集 2003A (0), 458-458, 2003

    平面度の干渉測定において3面合わせ法を用いれば直交する2本の線の絶対形状が得られる。次に被測定面を横シフトして回転させることで、この2本の線上の、交点から離れたある1点同士を互いに結ぶ線の絶対形状を求めると、平面上の3点を通る3本の線の絶対形状が得られることになる。

    DOI

  • 位相シフト近赤外フィゾー干渉法によるシリコン透過型平面の形状測定

    打越 純一, 岡本 太一朗, 島田 尚一, 森田 瑞穂 精密工学会学術講演会講演論文集 2003S (0), 530-530, 2003

    本研究は放射光用ミラーとして高い精度を要求されるシリコン平面ミラーの形状を近赤外光を用いた干渉法によって測定することを目的としている。原器の平面度によらない高精度絶対形状測定法として、3面合わせ法を用いた位相シフトフィゾー干渉法がよく知られているが、被測定面のシリコンを透過型参照面としても使用しようとするとき、シリコンは可視光域で不透明であるため、シリコンに対し透明な波長1310nmの近赤外レー…

    DOI

  • 近赤外光干渉法によるシリコン平面ミラーの形状測定

    打越 純一, 島田 尚一, 岡本 太一朗 精密工学会学術講演会講演論文集 2002A (0), 658-658, 2002

    本研究はシリコン平面ミラーの形状を近赤外光を用いた干渉法によって測定することを目的としている。シリコンに対し透明な近赤外光を用いることで、シリコンを参照面、被検出面両方に使用することができ、両者の形状測定によるデータを基に形状の修正加工を行い、測定系そのものの精度を向上させることができる。しかしシリコンミラーは反射率が高いため、2光束干渉にならずそのままでは位相シフト法を用いることが困難である。…

    DOI

  • 1 / 1
ページトップへ