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Roger Allan 日経エレクトロニクス = Nikkei electronics : sources of innovation (869) 148-150, 2004-03-15
...影響を大きく受けている装置が,リアルタイム・オシロスコープやサンプリング・オシロスコープ,デジタル通信アナライザ(DCA),タイムインターバル・アナライザ(TIA),プロトコル・アナライザ,ビット誤り率テスタ(BERT)などである。...
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