ダミロン デニス, アラン ピエール, 鳥山 陽平, オスマン モハンマド, 小林 大, 川勝 英樹
生産研究
67
(5),
545-550,
2015
Non-contact mode Atomic Force Microscopy is a very useful tool for precise measurement and mapping of the tip-sample interaction force. In the laboratory, several works were focused on the use of …
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