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  • All-optic UHV Atomic Force Microscopy.

    ダミロン デニス, アラン ピエール, 鳥山 陽平, オスマン モハンマド, 小林 大, 川勝 英樹 生産研究 67 (5), 545-550, 2015

    Non-contact mode Atomic Force Microscopy is a very useful tool for precise measurement and mapping of the tip-sample interaction force. In the laboratory, several works were focused on the use of …

    DOI Web Site

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