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眞田, 克, 伊藤, 誠吾 高知工科大学紀要 10 (1), 113-120, 2013-07-20
研究ノート
機関リポジトリ Web Site
滝口 清昭, 伊藤 誠吾, 河野 賢司, 袖山 洋子 国際生命情報科学会誌 29 (1), 9-22, 2011-03-01
サメが生餌の発する微弱な電界を検知する生体センサには,大きな謎がある.それは最新テクノロジーでも到底実現しえない超高感度を接地なしに実現していることである.我々はサメの電界検知器の構造にヒントを得て新しい素子の試作に成功した.またレーザ光等の光照射によって物質や生体の表面に準静電界の発生を見出し,それを用いた新しい可視化技術を開発した.これは表面だけではなく対象物内部の電気特性を可視化できるもの…
DOI
伊藤 誠吾 日本信頼性学会誌 信頼性 27 (1), 51-52, 2005
伊藤 誠吾 信頼性シンポジウム発表報文集 2005Autumn.17 (0), 43-46, 2004
最近、LSIをダイナミックに動作させた状態でレーザビーム光をLSIチップに照射し、機能テストのPass/Fail信号をモニターすることで故障解析を行うSDL(Soft Defect Localization)法という新しい手法が提案された。LSI動作のギリギリの状態に電圧や周波数を設定し、レーザの照射熱で抵抗やトランジスタ特性を変化させて、回路の異常や信号のクリティカルパスを見つけ出す方法である…
桑島 敦, 杉原 豊, 中村 実也, 伊藤 誠吾 日本信頼性学会誌 信頼性 25 (3), 305-306, 2003
近年,半導体デバイスの微細化,メタル配線の多層化に伴いチップ表面から回路領域の微少電流を解析する事が困難になってきている。我々は,0.35μm,CMOS LSI においてシリコン基盤の結晶欠陥に起因するI/O端子のリーク電流不良を裏面IROBIRCH法(Infrared Optical Beam Induced Resistance …
桑島 敦, 杉原 豊, 中村 実也, 伊藤 誠吾 日本信頼性学会誌 信頼性 25 (5), 442-, 2003
