上田 良夫, 船曳 一央, 島田 朋尚, 西川 雅弘, 福元 謙一, 栗下 裕明
日本原子力学会 年会・大会予稿集
2004f
(0),
625-625,
2004
タングステンに水素ビームを照射した場合に生じるブリスタリングの断面形状をFIB装置を用いて観察した。FIBにより断面の切断を行うことで、外力をかけることなく切断が可能となり、断面形状を正確に観察できる。タングステンの応力除去材と再結晶材について観察を行ったが、どちらについても結晶粒界に、亀裂が生じていることが確認され、またその形状からブリスタリングは、水素が注入されたタングステンの内部応力により…
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