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  • 電力半導体ダイアタッチ部の鉛直方向破壊解析

    杉本 大成, 苅谷 義治, 花田 隆一郎, 伊藤 悠策, 横山 吉典, 曽田 真之介 計算力学講演会講演論文集 2019.32 (0), 186-, 2019

    <p>In this study, high speed temperature cycle testing was conducted using a specimen that simulated die attach structure and then mechanism of the vertical direction fracture was closely …

    DOI Web Site 被引用文献1件

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