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小西 朝陽, 四柳 浩之, 橋爪 正樹 エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集 26 (0), 166-167, 2012
我々は過去にICをプリント配線板にはんだ付けする際に発生する断線を発見する電気的検査法ならびにその検査を可能にする検査用回路を提案した。その検査用回路はICに内蔵されているESD入力保護回路をその検査法で検査できるように変更するものである。本稿ではその検査用回路と異なる新しいIC内組み込み型検査回路を提案する。またその検査回路をIC内に組み込むことでICとプリント配線板間に発生する断線がその電気…
DOI
榛葉 陽一, 藤 信男, 西岡 和也 エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集 19 (0), 31-32, 2005
...われわれは、これらの特性の改良を試み、２０μｍピッチのＩＣ接続に充分な高い位置精度と絶縁信頼性を実現した。さらに、１０μｍピッチのフレキシブル回路基板を検討している。...
