Fundamentals of surface and thin film analysis

著者

• Feldman, Leonard C.
• Mayer, James W.

書誌事項

Fundamentals of surface and thin film analysis

Leonard C. Feldman, James W. Mayer

North-Holland : Elsevier Science Pub., c1986

注記

Includes bibliographies and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA0028903X
• ISBN:
  • 0444009892
• LCCN: 86002479
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xviii, 352 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : QD506
  • DC19 : 530.4/1
• 件名:
  • LCSH : Surfaces (Technology) -- Analysis
  • LCSH : Thin films -- Analysis