2008 17th Asian Test Symposium, Hokkaido, Japan 24-27 November 2008
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2008 17th Asian Test Symposium, Hokkaido, Japan 24-27 November 2008
IEEE, c2008
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Proceedings of the 17th Asian Test Symposium
ATS
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注記
"IEEE Catalog Number CFP08067-PRT"-- cover
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