2011 IEEE International Test Conference (ITC 2011) : Anaheim, California, USA, 20-22 September 2011

著者

• International Test Conference
• Institute of Electrical and Electronics Engineers

書誌事項

2011 IEEE International Test Conference (ITC 2011) : Anaheim, California, USA, 20-22 September 2011

IEEE, c2011

タイトル別名

CFP11ITC-PRT

注記

IEEE Catalog Number: CFP11ITC-PRT

Includes bibliographical references and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB09151458
• ISBN:
  • 9781457701535
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Piscataway, N.J.
• ページ数/冊数: 508 p.
• 大きさ: 27 cm