2016 IEEE International Test Conference : (ITC 2016) : Fort Worth, Texas, USA, 15-17 November 2016

著者

• International Test Conference
• Institute of Electrical and Electronics Engineers

書誌事項

2016 IEEE International Test Conference : (ITC 2016) : Fort Worth, Texas, USA, 15-17 November 2016

IEEE, c2016

タイトル別名

CFP16ITC-POD

注記

"IEEE catalog number: CFP16ITC-POD"

Includes bibliographical references

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BB2513445X
• ISBN:
  • 9781467387743
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Piscataway, N.J.
• ページ数/冊数: 490 p.
• 大きさ: 28 cm