電子顕微鏡・表面分析のためのブロードなアルゴンイオンビームを用いた試料前処理法

• 長澤 忠広

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Other Title

• デンシ ケンビキョウ ヒョウメン ブンセキ ノ タメノ ブロードナ アルゴン イオン ビーム オ モチイタ シリョウ マエ ショリホウ
• Specimen preparation by using a broad argon ion beam for electron microscopy and surface analysis

Journal

• ぶんせき / 日本分析化学会 編

  ぶんせき / 日本分析化学会 編 2007年 (4), 185-189, 2007-04

  東京 : 日本分析化学会

Details

• CRID: 1520853832828952320
• NII Article ID: 10018915584
• NII Book ID: AN00222622
• ISSN: 03862178
• NDL BIB ID: 8787049
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I8787049
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZP4(科学技術--化学・化学工業--分析化学)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles