書誌事項

IEEE International Reliability Physics Symposium proceedings

sponsored by the IEEE Electron Devices Society and the IEEE Reliability Society

IEEE, c1997-

  • 35th (Apr. 8/9/10, 1997)-

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詳細情報

  • NII書誌ID(NCID)
    AA11164286
  • LCCN
    97038118
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    eng
  • 本文言語コード
    eng
  • 出版地
    Piscataway, N.J.
  • 出版状況
    刊行中
  • 刊行頻度
    年刊
  • 定期性
    定期
  • 雑誌変遷マップID
    40781500
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