実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の低消費電力テスト生成手法について

• 福澤 友晶

• 宮瀬 紘平

• 大和 勇太

書誌事項

タイトル別名

• ジツソクド スキャン テスト ニ オケル キャプチャジ ノ テイ ショウヒ デンリョク テスト セイセイ シュホウ ニ ツイテ
• A transition delay test generation method for capture power reduction during at-speed scan testing
• システムLSI設計技術・デザインガイア2007--VLSI設計の新しい大地を考える研究会
• システム LSI セッケイ ギジュツ デザイン ガイア 2007 VLSI セッケイ ノ アタラシイ ダイチ オ カンガエル ケンキュウカイ

収録刊行物

• 情報処理学会研究報告 = IPSJ SIG technical reports

  情報処理学会研究報告 = IPSJ SIG technical reports 2007 (114), 7-12, 2007-11

  東京 : 情報処理学会

キーワード

• キャプチャ時の低消費電力
• ATPG
• X割当
• 実速度スキャンテスト
• Low Capture Power
• X-filling
• At-speed scan testing

詳細情報

• CRID: 1520009409524391040
• NII論文ID: 110006533254
• NII書誌ID: AN10539294
• ISSN: 09196072
• NDL書誌ID: 9294035
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I9294035
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZM13(科学技術--科学技術一般--データ処理・計算機)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles