Hot-carrier effects in nanoscale MOSFETs : generation behavior of interface traps ナノスケールMOSFETにおけるホットキャリア効果 : 界面トラップの発生振舞い
この論文をさがす
著者
書誌事項
- タイトル
-
Hot-carrier effects in nanoscale MOSFETs : generation behavior of interface traps
- タイトル別名
-
ナノスケールMOSFETにおけるホットキャリア効果 : 界面トラップの発生振舞い
- 著者名
-
胡, 明
- 著者別名
-
フー, ミン
- 学位授与大学
-
島根大学
- 取得学位
-
博士(工学)
- 学位授与番号
-
甲第470号
- 学位授与年月日
-
2012-09-24
注記・抄録
博士論文
