Applications and microanalysis

著者

• Beddow, John K.

書誌事項

Applications and microanalysis

John Keith Beddow

（Uniscience series on fine particle science and technology, . CRC series on fine particle science and technology . Particle characterization in technology / editor, John Keith Beddow ; 1）

CRC Press, c1984

注記

Includes bibliographies and indexes

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA00628962
• ISBN:
  • 0849357845
• LCCN: 83014363
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Boca Raton, Fla.
• ページ数/冊数: v.
• 大きさ: 27 cm
• 分類:
  • LCC : TA418.78
  • DC19 : 620/.43
• 件名:
  • LCSH : Particles
  • LCSH : Bulk solids
  • LCSH : Particle size determination
• 親書誌ID:
  • BA00628678