Practical scanning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis

著者

• Goldstein, Joseph
• Yakowitz, Harvey

書誌事項

Practical scanning electron microscopy : electron and ion microprobe analysis

edited by Joseph I. Goldstein and Harvey Yakowitz ; forward by T. E. Everhart

Plenum Press, c1975

注記

Includes bibliographical references and index

• NII書誌ID(NCID): BA03242622
• ISBN:
  • 0306308207
• LCCN: 74034162
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xviii, 582 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : QH212.S3
  • DC : 502/.8
• 件名:
  • LCSH : Scanning electron microscope
  • LCSH : Microprobe analysis