Practical analytical electron microscopy in materials science

著者

• Williams, David B. (David Bernard)

書誌事項

Practical analytical electron microscopy in materials science

David B. Williams

Verlag Chemie International , Electron Optics Pub. Co., c1984

• : Germany
• : us
• : pbk

注記

Includes bibliographies and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA03782481
• ISBN:
  • 3527262245
  • 0895733072
  • 0961293403
• LCCN: 83083128
• 出版国コード: gw
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: [Weinheim, Basel],Mahwah, N.J.
• ページ数/冊数: vii, 153 p.
• 大きさ: 29 cm
• 分類:
  • LCC : TA417.23
  • DC19 : 620.1/1/0287
• 件名:
  • LCSH : Materials -- Microscopy
  • LCSH : Electron microscopy