Integrated circuit quality and reliability

著者

• Hnatek, Eugene R.

書誌事項

Integrated circuit quality and reliability

Eugene R. Hnatek

（Electrical engineering and electronics, 41）

Marcel Dekker, c1987

注記

Includes bibliographies and index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA03980361
• ISBN:
  • 0824776682
• LCCN: 87009256
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: New York
• ページ数/冊数: xiii, 698 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TK7874
  • DC19 : 621.381/73
• 件名:
  • LCSH : Integrated circuits -- Reliability
• 親書誌ID:
  • BA0010842X