Thin film and depth profile analysis

著者

• Oechsner, H. (Hans)
• Etzkorn, H. W.

書誌事項

Thin film and depth profile analysis

edited by H. Oechsner ; with contributions by H.-W. Etzkorn ... [et al.]

（Topics in current physics, 37）

Springer-Verlag, 1984

• : us
• : gw

注記

Includes bibliographical references and index

• NII書誌ID(NCID): BA03990434
• ISBN:
  • 0387133208
  • 3540133208
• LCCN: 84005394
• 出版国コード: gw
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Berlin ; New York ; Tokyo
• ページ数/冊数: xi, 205 p.
• 大きさ: 25 cm
• 分類:
  • LCC : QC176.84.S93
  • DC19 : 530.4/1
• 件名:
  • LCSH : Thin films -- Surfaces
  • LCSH : Surface chemistry
  • LCSH : Sputtering (Physics)
• 親書誌ID:
  • BA00284149