Logic testing and design for testability

著者

• 藤原, 秀雄 フジワラ, ヒデオ

書誌事項

Logic testing and design for testability

Hideo Fujiwara

（MIT Press series in computer systems）

MIT Press, c1985

注記

Bibliography: p. [272]-278

Includes index

詳細情報

• NII書誌ID(NCID): BA0446462X
• ISBN:
  • 9780262561990
• LCCN: 85000084
• 出版国コード: us
• タイトル言語コード: eng
• 本文言語コード: eng
• 出版地: Cambridge, Mass.
• ページ数/冊数: x, 284 p.
• 大きさ: 24 cm
• 分類:
  • LCC : TK7868.L6
  • DC19 : 621.3815/37
• 件名:
  • LCSH : Logic circuits -- Testing
• 親書誌ID:
  • BA00107303